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VIEW Benchmark 250

VIEW Benchmark 250

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VIEW Benchmark 250 紧凑型高精度影像测量系统可满足你所期望的VIEW Micro-Metrology台式测量机带来的高性能和可靠性。先进的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使其成为世界*的计量系统。

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VIEW Benchmark 250 紧凑型高精度影像测量系统 VIEW Benchmark 250可满足你所期望的VIEW Micro-Metrology台式测量机带来的高性能和可靠性。先进的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使其成为世界*的计量系统。 VIEW Benchmark 250无论是在QA实验室进行首件产品检验,亦或是生产车间精确的测量过程控制,Benchmark 250光学测量仪都能应用自如。

VIEW Benchmark 250特征

测量范围:300 x 150 x 150 mm
25
公斤承载力
亚微米的光栅尺分辨率
平台移动速度X-Y: 150 mm/秒; Z: 100 mm/
误差映射:在XY平面非线性二维纠错
超精密双重放大光学系统
可编程多色环形灯(PRL)选项
TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能
先进的图像处理性能,快速、精确、稳健
双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
强大的测量软件和数据分析工具可供选择
平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时

 

Benchmark的应用范围包括: 

半导体/电子
BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
引线框,引线接合
柔性线路板,连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
光纤组件和MEMs

数据存储
悬置件
滑块和悬臂组(HGA)
磁盘介质基板

 

精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件

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